上海安竹光电科技有限公司

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无线平板探测器DR平板探测器X射线检测

2024-12-18 04:00:01  191次浏览 次浏览
价 格:210000

主要用于工厂的电子产品,电子配件,接扦件的质量检测。可检测产品的内部结构是否有损坏、检测内部的图形结构,产品是否合格,是电子产品质量检测的专用设备。可透视金属、非金属、塑料、电子元器件

技术参数:

像素区域:160×130mm

像素分辨率:1280×1024

有效分辨率:1274×1024

像素大小:125×125um

图像1280×1024×2=2.6Mbyte

结构尺寸约250×170mmx

DC插头,5.5×2.5mm24v电源口

1.天线外接接口, 图像无线传输(双天线).

2.RJ45网口,带指示灯

3.指示灯(电源、WIFI

安竹耐张线夹手提式1.jpg

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